環(huán)境試驗箱箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方并采用無反作用把手，操作簡便。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各項性能指標(biāo)。
 

　　環(huán)境試驗箱的試驗范圍：
 

　　(1)低壓(高空)試驗：試驗適用于在飛機貨艙中空運的兵器，在高原上使用的兵器和空運兵器在飛機受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗的目的是檢驗兵器在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對兵器性能的影響。
 

　　(2)高溫試驗：試驗中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。試驗針對高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動機等熱源處儲藏或使用兵器的情形。僅當(dāng)太陽輻射試驗不能檢驗高溫效應(yīng)時才進(jìn)行這項試驗。試驗的目的是檢驗在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。
 

　　(3)低溫試驗：試驗適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和作戰(zhàn)。
 

　　(4)熱沖擊試驗：試驗適用于在預(yù)定的使用區(qū)域或使用模式中經(jīng)常經(jīng)受極迅速溫度變化的兵器。進(jìn)行熱沖擊試驗的目的是檢驗環(huán)境溫度驟然變化對兵器性能的影響。
 

　　(5)太陽輻射(日照)試驗：這是一項對暴露在陽光下的兵器及其制造材料進(jìn)行的試驗。太陽輻射可引起光化學(xué)效應(yīng)和熱效應(yīng)。在大多數(shù)情況下，這項試驗可以代替高溫試驗。通過日照試驗可檢驗太陽輻射對兵器或有關(guān)材料的使用或露天存儲的影響。